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致茂Chroma 7505-1 多功能光學(xué)檢測系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

致茂Chroma 7505-1 多功能光學(xué)檢測系統(tǒng)
一機(jī)具備1D、2D、3D量測能力
具備膜厚量測功能(1D),使用穿透反射式量測,可進(jìn)行非破壞式膜厚量測
使用高解析度線型掃瞄相機(jī),可進(jìn)行高速2D瑕疵量測,可檢出氣泡、刮傷、異物等瑕疵
使用白光干涉量測技術(shù),可進(jìn)行3D三維形貌量測
搭載電動式鼻輪,可同時掛載多種物鏡并可程式控制切換使用
具備暗點以及邊界錯誤問題修正演算法

產(chǎn)品型號:7505-1
更新時間:2024-11-29
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:788
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品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子

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致茂Chroma 7505-1 多功能光學(xué)檢測系統(tǒng)

主要特色:

  • 一機(jī)具備1D、2D、3D量測能力
  • 具備膜厚量測功能(1D),使用穿透反射式量測,可進(jìn)行非破壞式膜厚量測
  • 使用高解析度線型掃瞄相機(jī),可進(jìn)行高速2D瑕疵量測,可檢出氣泡、刮傷、異物等瑕疵
  • 使用白光干涉量測技術(shù),可進(jìn)行3D三維形貌量測
  • 搭載電動式鼻輪,可同時掛載多種物鏡并可程式控制切換使用
  • 具備暗點以及邊界錯誤問題修正演算法
  • 模組化設(shè)計可依量測需求及預(yù)算考量進(jìn)行各部件選配
  • 量測范圍可涵蓋約700 mm x 900 mm (可依需求提供更小尺寸)
  • 三維量測提供多種表面參數(shù)量測功能,如斷差高度、夾角、面積、體積、粗度、起伏、薄膜厚度及平整度
  • 載臺具備真空吸附能力,軟性待側(cè)物可*平整的被吸附形成一個平整的平面
  • 友善的人機(jī)介面,簡單的圖形化控制系統(tǒng)及3D圖形顯示
  • 自動化快速自我校正能力,確認(rèn)系統(tǒng)量測能力
  • 提供腳本量測功能,具備自動量測能力
  • 提供中/英文程式介面切換

Chroma蕞一代7505-01多功能光學(xué)檢測系統(tǒng)能實現(xiàn)在一設(shè)備上同時具備1D、2D、3D的量測能力。1D膜厚量測功能,利用穿透反射式量測,可對透明半透明的材料進(jìn)行非破壞性膜厚量測。2D量測搭載高解析度線型掃瞄相機(jī),搭配電腦精密控制的平臺進(jìn)行水平掃描,量測范圍可達(dá)到700mm x 900mm的范圍,同時載臺具備真空吸附能力,針對軟性待測物如觸控面板、電子紙及AMOLED等軟性顯示器等可以平整的被吸附形成一個平整的平面。本系統(tǒng)可適合于各種需要進(jìn)行微奈米等級量測并同時需要量測大范圍的應(yīng)用。2D瑕疵量測,可檢出氣泡、刮傷、異物等瑕疵,并可透過三維量測功能進(jìn)一步對二維瑕疵進(jìn)行高度或深度的分析,同時具備2D及3D瑕疵分析的功能,能解決傳統(tǒng)二維檢測無法量測高度或深度的缺點。

目前3C產(chǎn)品朝小型化發(fā)展,相關(guān)上游供應(yīng)產(chǎn)業(yè),諸如半導(dǎo)體、平面顯示器、PCB、軟性顯示器、電子紙、OLED、微機(jī)電(MEMS) 、電子封裝等產(chǎn)業(yè),對于各項二維三維的量測需求尺寸將會越來越小,各項尺寸量測的準(zhǔn)確性會反映出產(chǎn)品的品質(zhì)與效能,在制程中對各項尺寸品質(zhì)的即時監(jiān)測需求與日俱增。Chroma 7505-01能提供微奈米等級1D、2D、3D多功能的量測能力,可滿足各項產(chǎn)業(yè)及研究單位之需求,是您提升效率及節(jié)省成本的蕞選擇。

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7505-01多功能光學(xué)檢測系統(tǒng) 
 

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