致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)

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致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)

主要特色：

• 可檢測(cè)TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷
• 具備自動(dòng)對(duì)焦功能，可克服載盤制造公差內(nèi)的高度差異
• 檢測(cè)完成后可依設(shè)定規(guī)格挑揀不良品
• 提供比人工目檢更佳的可靠度及重復(fù)性
• 每小時(shí)蕞高可檢測(cè)3600顆待測(cè)物
• 自動(dòng)化上下料盤，減少人員上下料時(shí)間
• 提供完整的檢測(cè)資料，包含檢測(cè)數(shù)據(jù)及缺陷影像以供工程分析

Chroma 7925為自動(dòng)化TO-CAN封裝外觀檢測(cè)系 統(tǒng)，可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進(jìn)行 檢測(cè)。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配 置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于 載盤可能存在制造公差導(dǎo)致待測(cè)物對(duì)焦距離均不 相同，Chroma 7925配置了自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，可自 動(dòng)計(jì)算待測(cè)物之對(duì)焦距離并進(jìn)行補(bǔ)償，以確保可 以取得清楚的檢測(cè)影像。

使用者可以自由設(shè)定良品與不良品之規(guī)則及缺陷 編碼，并依據(jù)編碼進(jìn)行挑揀。從上片、檢測(cè)、挑 揀及下片均為全自動(dòng)化流程，大幅降低人員操作 及制程管理發(fā)生錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。檢測(cè)完成后，工程 師可以取得詳細(xì)的缺陷量化數(shù)據(jù)，以及儲(chǔ)存缺陷 影像以利于再判讀。相較于人工目檢無法保留檢 測(cè)資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有 助于分析制程問題，并進(jìn)一步提升產(chǎn)品良率。

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