致茂Chroma 19301A 繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試儀

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致茂Chroma 19301A 繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試儀

主要特色：

• 高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1uH~100uH)
• 10V~1000V脈沖測(cè)試電壓,0.25V測(cè)量解析度
• 高速測(cè)量 120mS(Pulse 1.0,標(biāo)準(zhǔn)充電時(shí)間)
• 具備電感測(cè)量接觸檢查功能
• 具備電感差異電壓補(bǔ)償功能
• 脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz),10bits
• 崩潰電壓分析功能
• 低電壓量測(cè)檔位,提高波形分析靈敏度(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
• 繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
• USB波形儲(chǔ)存與畫(huà)面擷取功能
• 圖形化彩色顯示
• 標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面

Chroma 19301為繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了 高低感量測(cè)技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍 感量產(chǎn)品測(cè)試滿(mǎn)足絕大部份功率電感測(cè)試需求， 擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng) 偵測(cè)(FLUTTER)及波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測(cè)線(xiàn)圈自體絕緣不良。

繞線(xiàn)元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī) 耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線(xiàn)圈之自體絕緣不良通常是 造成線(xiàn)圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路 之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所 引起，故加入線(xiàn)圈層間短路測(cè)試有其必要性。

Chroma 19301為針對(duì)繞線(xiàn)元件測(cè)試需求所設(shè)計(jì)， 利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與待測(cè) 線(xiàn)圈形成RLC并聯(lián)諧振，由振蕩之衰減波形，透 過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出線(xiàn) 圈自體之絕緣不良，提供功率電感元件進(jìn)行繞線(xiàn) 品質(zhì)及磁芯之耐壓測(cè)試，讓元件生產(chǎn)廠商及使用 者能更有效的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19301應(yīng)用于低感量繞線(xiàn)元件測(cè)試，小 感量可達(dá)0.1uH，針對(duì)低感量測(cè)試特性提供四線(xiàn) 式測(cè)量、接觸檢查功能、電感檢查與電壓補(bǔ)償功 能，可避免因待測(cè)物感量變化大或配線(xiàn)等效電感 而造成測(cè)試電壓誤差大，為低感量繞線(xiàn)元件脈沖 測(cè)試蕞佳利器。

Chroma 19301于自動(dòng)化生產(chǎn)上應(yīng)用，擁有超高速 測(cè)量速度有效縮短測(cè)試時(shí)間提升生產(chǎn)效率，且電 壓補(bǔ)償功能改善了自動(dòng)化機(jī)臺(tái)配線(xiàn)等效電感之影 響。

全新的人機(jī)操作介面，整合圖形化彩色顯示并提 供畫(huà)面擷取功能，透過(guò)前面板USB儲(chǔ)存波形，不 僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，更可應(yīng)用于研發(fā)、品保單位 使用進(jìn)行樣品分析比對(duì)，大幅提升操作便利性。

量測(cè)技術(shù)

脈沖測(cè)試概論與原理

所謂的『繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，以一脈沖電壓加于并聯(lián)線(xiàn)圈的振蕩電容(Cs)上，使 并聯(lián)電容與線(xiàn)圈產(chǎn)生LCR振蕩，觀察振蕩衰減情況來(lái)了解線(xiàn)圈內(nèi)部狀態(tài)，包含線(xiàn)圈自體之絕緣、線(xiàn)圈感量及并聯(lián)電容量(Cw)等狀態(tài)(如圖1: 測(cè)試等效電路圖 ) ，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線(xiàn)元件中各種潛在之缺陷，例 如：繞線(xiàn)層間短路、電極焊接不良、內(nèi)部線(xiàn)圈或磁芯絕緣不良等。

波形判定模式 
波形面積比較 (AREA SIZE) 
將樣本和待測(cè)物彼此之面積大小進(jìn)行比對(duì)，面 積大小與待測(cè)物線(xiàn)圈絕緣有關(guān)，線(xiàn)圈絕緣不良 造成波形快速衰減。

波形面積差比較 (DIFFERENTIAL AREA) 
對(duì)任意之區(qū)域求出樣本和待測(cè)物差異部分 之面積與判定條件進(jìn)行比對(duì)，與待測(cè)物感量變 化有關(guān)聯(lián)，感量差異造成后段線(xiàn)圈自體震蕩頻 率改變使波形面積差異。

波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION) 
以微分演算求出波形上產(chǎn)生之總放電量在與樣本之波形總放電量做比對(duì)。 
放電量二次微分偵測(cè) (LAPLACIAN VALUE) 
以二階微分演算后，與樣本之讀值做比對(duì)，可 有效檢測(cè)出因電氣放電或電極焊接不良引起波 形快速變化現(xiàn)象。

低感量脈沖測(cè)試技術(shù)

Chroma 19301 為針對(duì)低感量繞線(xiàn)元件待測(cè)物而開(kāi)發(fā)，小感量可從0.1uH~100uH產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測(cè)試，低感量待測(cè)物有別于一般感量產(chǎn)品測(cè)試應(yīng)用， 因待測(cè)物感量較低相對(duì)于容易受到測(cè)試回路上配線(xiàn)等效電感之影響，使得測(cè)試電壓產(chǎn)生分壓于配線(xiàn)上使待測(cè)物端電壓會(huì)遠(yuǎn)低于量測(cè)時(shí)的設(shè)定電壓，另外如 低感量Power choke其工作電壓應(yīng)用于較低電壓，因此其脈沖測(cè)試電壓通常會(huì)低于一般感量產(chǎn)品。

低電壓檔位 
低感量產(chǎn)品如智慧型手機(jī)中的Power choke，其工作電壓較低且體積較小，可測(cè)試電壓相對(duì)較低，因此用于量測(cè)低感量之脈沖測(cè)試設(shè)備需具備較低電壓檔 位來(lái)進(jìn)行波形分析，Chroma 19301具有六個(gè)電壓檔位分別為32V,64V,128V,256V,512V及1024V與低0.25V電壓辨識(shí)度，小測(cè)試電壓可從10V開(kāi)始進(jìn)行測(cè) 試，可有效提高波形判定辨識(shí)能力。

四端測(cè)量 
一般兩線(xiàn)式層間短路測(cè)試設(shè)備因電壓偵測(cè)在電流回圈內(nèi)部，在 低感量待測(cè)物，測(cè)得電壓與實(shí)際待測(cè)物上有很大差距，Chroma 19301采用雙同軸線(xiàn)四線(xiàn)偵測(cè)方式，大幅提高電壓精度，達(dá)到正確 測(cè)試效果。

崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V) 
Chroma 19301 具有崩潰電壓測(cè)試功能，設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓 及電壓爬升率，利用電壓爬升過(guò)程偵測(cè)波形面積比(Area)與二階微 分偵測(cè)(Laplacian)判定是否超過(guò)設(shè)定值，測(cè)試出線(xiàn)圈可承受電壓強(qiáng) 度，藉由這些功能，研究人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分析與研究，針對(duì) 線(xiàn)圈較弱的地方做改善。

接觸檢查功能 
Chroma 19301 于測(cè)試前會(huì)進(jìn)行接觸檢查，避免因?yàn)榻佑|不良或開(kāi) 路使得內(nèi)部以大電壓輸出造成治具端探針接線(xiàn)因高壓而跳火， 導(dǎo)致待測(cè)物受到損壞。并可延長(zhǎng)探針使用壽命。

電壓補(bǔ)償功能 
一般如變壓器等感量較大的線(xiàn)圈進(jìn)行測(cè)試時(shí) ，配線(xiàn)等效感量相對(duì)較小， 但在低感量測(cè)試時(shí)(如0.2uH)， 配線(xiàn)等效感量大小會(huì)影響待測(cè)物上之實(shí)際電壓，尤 其在自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用時(shí)， 降低配線(xiàn)影響是一重要設(shè)計(jì)考量。過(guò)高的配線(xiàn)阻抗會(huì)使低感量測(cè)試時(shí)電壓分壓在測(cè)線(xiàn)上， 導(dǎo)致待測(cè)物上的電壓低于設(shè)定值而無(wú) 法有效檢出不良品。且電感產(chǎn)品感量規(guī)格蕞高可達(dá)正負(fù)30%，因此于低感量測(cè)試應(yīng)用時(shí)，會(huì)因待測(cè)物感量變化而造成實(shí)際端點(diǎn)上電壓差異更加明顯，導(dǎo)致 波形面積判定失效或測(cè)試電壓未達(dá)要求之電壓。Chroma 19301 具備電感差異電壓補(bǔ)償功能，改善上述問(wèn)題及降低因感量差異造成于端點(diǎn)上實(shí)際電壓的差 異，進(jìn)而降低誤判的可能性。

高低感量產(chǎn)品測(cè)試 
Chroma 19301 除了低感量產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)外，也同時(shí)涵蓋到較高感量產(chǎn)品測(cè)試應(yīng)用，可從0.1uH ~ 100uH 。于測(cè)試初始進(jìn)行樣品取樣時(shí)，透過(guò)內(nèi)部電感量偵 測(cè)功能得知待測(cè)物感量大小，自動(dòng)切換到合適檔位進(jìn)行測(cè)試(切換點(diǎn)可設(shè)定)，使待測(cè)物在適當(dāng)波形下進(jìn)行比對(duì)測(cè)量，對(duì)使用者操作來(lái)說(shuō)是相當(dāng)便利的一項(xiàng) 功能。單一臺(tái)層間短路測(cè)試器即結(jié)合了高低感量產(chǎn)品測(cè)試應(yīng)用，客戶(hù)于生產(chǎn)線(xiàn)上進(jìn)行產(chǎn)品更換時(shí)可省略設(shè)備更換時(shí)間，不僅縮短了產(chǎn)品換線(xiàn)工時(shí)同時(shí)也降 低工廠設(shè)備負(fù)擔(dān)，有助于工廠端生產(chǎn)管理也替客戶(hù)節(jié)省設(shè)備資本支出之成本。

產(chǎn)品應(yīng)用

高速自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用 
低感量電感應(yīng)用于智慧型手機(jī)或平板電腦等3C產(chǎn)品，產(chǎn)品外觀尺寸趨向輕薄短小設(shè)計(jì)，電感于生產(chǎn)上也采用全自動(dòng)化 測(cè)包機(jī)進(jìn)行生產(chǎn)，其自動(dòng)化機(jī)臺(tái)產(chǎn)速相當(dāng)高，因此產(chǎn)品生產(chǎn)應(yīng)用需搭配高速測(cè)量設(shè)備才能滿(mǎn)足生產(chǎn)條件。為了滿(mǎn)足高 速自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用，Chroma 19301具有超高速測(cè)量功能及雙同軸線(xiàn)四線(xiàn)測(cè)量方式降低配線(xiàn)長(zhǎng)度之影響，可直接搭配層 測(cè)自動(dòng)化機(jī)上應(yīng)用，為客戶(hù)自動(dòng)化生產(chǎn)帶來(lái)更大效益。

SMD POWER CHOKE 測(cè)試治具 
低感量Power Choke產(chǎn)品體積小，為了使層間短路測(cè)試操作上能更加便利，Chroma 開(kāi)發(fā)之SMD Power Choke四端 測(cè)試治具 ，可搭配19301之電感差異自動(dòng)電壓補(bǔ)償功能特點(diǎn)應(yīng)用，為產(chǎn)品開(kāi)發(fā)或品保人員帶來(lái)更為方便進(jìn)行測(cè)試 提高測(cè)試效率。

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