致茂Chroma 19055/19055-C 耐壓測(cè)試儀

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致茂Chroma 19055/19055-C 耐壓測(cè)試儀

主要特色：

• 500VA 輸出
• Floating 輸出設(shè)計(jì)，符合EN50191要求
• Corona 電暈放電偵測(cè)(19055-C)
• Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)
• BDV崩潰電壓分析
• 專利 HFCC高頻接觸偵測(cè)
• 專利 OSC開(kāi)短路偵測(cè)
• GFI人體保護(hù)電路
• 標(biāo)準(zhǔn)RS232&HANDLER介面
• 可選購(gòu)GPIB介面
• 不良時(shí)面板鎖定功能
• 可程式電壓輸出及測(cè)試限制值
• 支援 A190301 高壓掃描治具

功能

• 耐壓測(cè)試 
  - 交流 5kV/100mA 
  - 直流 6kV/25mA
• 絕緣電阻測(cè)試 
  - 5kVmax 
  - 1MΩ~50GΩ

Chroma 19055 耐壓分析儀為針對(duì)耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。其具備500VA大功率，大輸出交流5kV/100mA，符合大功率耐壓測(cè)試需求，以及符合EN50191的設(shè)備要求(詳細(xì)資訊請(qǐng)參考應(yīng)用文件)。

19055-C系列除了基本的交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試外，加入新研發(fā)的電暈放電偵測(cè)功能 (Corona Discharge Detection, CDD)，可經(jīng)由崩潰電壓分析 (Breakdown Voltage Analysis)分別檢出 :
- 電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage, CSV)
- 電氣閃絡(luò)啟始電壓(Flashover Start Voltage, FSV)
- 絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage, BDV)

對(duì)於測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題，除原有專利設(shè)計(jì)OSC開(kāi)短路偵測(cè) (Open Short Check)外，新增高頻接觸檢查 (High Frequency Contact Check, HFCC) ，高壓輸出前進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率。

為體貼使用者，Chroma 19055置入大型LCD顯示屏幕，方便操作與判斷。加入GFI 人體保護(hù)電路以及Floating安全輸出設(shè)計(jì)，保護(hù)操作人員的安全，讓您在操作時(shí)無(wú)後顧之憂。

量測(cè)技術(shù)

耐壓測(cè)試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(luò)(FLASHOVER) /電暈放電偵測(cè)技術(shù)(CORONA)
何謂耐壓不良? 大部份的電氣安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur"，意指在耐壓測(cè)試中，不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類絕緣材料或耐壓零組件重視的議題。由於放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性，所以放電偵測(cè)不僅是安全議題，更是控制產(chǎn)品品質(zhì)的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來(lái)分類，放電可分為三種 : 電暈放電(Corona discharge)、火花放電(Glow discharge)、電弧放電(Arc discharge) 。

電暈放電(Corona Discharge): 當(dāng)二電極間承受較高電壓時(shí)，電場(chǎng)強(qiáng)度相對(duì)較大，當(dāng)此作用大於氣體之電離位能(Ionization Potential) ，於材料表面氣體發(fā)生暫態(tài)離子化的現(xiàn)象，此時(shí)會(huì)有可見(jiàn)光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的電暈放電與溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change)，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化 (Insulation Deterioration) ，使得絕緣耐受程度下降，終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由於電暈放電會(huì)產(chǎn)生高頻的暫態(tài)放電，是可以用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè)。

▲ 圖一: 電暈放電示意圖

火花放電(Glow Discharge) 及電弧放電(Arc Discharge): 絕緣材料內(nèi)部或表面因高電壓產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，嚴(yán)重者會(huì)導(dǎo)致碳化產(chǎn)生導(dǎo)電通路或產(chǎn)品傷害。如右圖2可知，瞬間暫態(tài)的放電並無(wú)法以漏電流量判定檢出不良，須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)偵測(cè)為高壓測(cè)試*的檢測(cè)項(xiàng)目之一。

▲ 圖二: 瞬間暫態(tài)的放電示意圖

針對(duì)不同放電的環(huán)境，Chroma 19055提供對(duì)應(yīng)的放電特性偵測(cè)技術(shù)，包含電暈放電(Corona)偵測(cè)(19055-C only)，電氣閃絡(luò) (ARC/Flashover) 偵測(cè)以及漏電流判定 (絕緣破壞Breakdown)，這些功能可成為研發(fā)或品保單位在耐壓測(cè)試與分析時(shí)的蕞佳利器。

▲ 圖三: 放電程度分析模式 (DLA)

崩潰電壓分析(BREAKDOWN VOLTAGE ANALYSIS, BDV) 

被動(dòng)元件的高壓耐受程度 (withstanding voltage)決定於材料及製程。為提升元件的絕緣品質(zhì)及能力，需要分析放電的程度，其包含電暈放電 (Corona discharge)、電氣閃絡(luò) (Flashover/ARC)及絕緣破壞 (Breakdown)的耐受程度。 Chroma 19055耐壓分析儀新增崩潰電壓分析(Breakdown Voltage Analysis, BDV)功能。經(jīng)由設(shè)定爬升的啟始電壓、結(jié)束電壓、次數(shù)及時(shí)間，進(jìn)行放電程度分析。

崩潰電壓分析 (Breakdown Voltage Analysis, BDV)功能提供三階段判斷方式，可設(shè)定電暈放電檢測(cè) (Corona limit)、電氣閃絡(luò)檢測(cè)(Flashover/ARC)、絕緣崩潰檢測(cè) (Breakdown, high limit)。當(dāng)測(cè)試中有不良出現(xiàn)時(shí)， Chroma 19055會(huì)依放電不同階段的限制值，顯示出耐壓強(qiáng)度 (withstanding voltage)，其分別代表電暈放電啟始電壓 (Corona discharge Start Voltage, CSV)、電氣閃絡(luò)啟始電壓 (Flashover Start Voltage, FSV) 以及絕緣崩潰電壓 (Breakdown Voltage, BDV)。藉由這些測(cè)試結(jié)果，研究人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分析與研究，針對(duì)元件絕緣較弱的部份進(jìn)行改善。

防止產(chǎn)品測(cè)試時(shí)接觸失敗高頻接觸檢查 (HFCC) &開(kāi)短路偵測(cè)(OSC)專利號(hào) 254135

高頻接觸檢查功能 (High Frequency Contact Check, HFCC) 是 Chroma新研發(fā)的接觸檢查技術(shù)。 HFCC設(shè)計(jì)在AC/DC耐壓測(cè)試項(xiàng)目之中，當(dāng)耐壓測(cè)試進(jìn)行時(shí)，一併檢查是否有接觸不良的問(wèn)題。 HFCC之測(cè)試頻率提高至約 500KHz，可大幅提升接觸檢查的準(zhǔn)確度，並有效提升產(chǎn)線生產(chǎn)效率。

在耐壓測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生開(kāi)路現(xiàn)象，會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品 ;若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知並篩選，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測(cè)試成本。

一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性 (Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十 pF至數(shù)μ F之間，一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量 (圖4.2之Cc)，一般低於 10pF，而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低於正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高於正?，F(xiàn)象。因此可利用電容量變化之上下限值判斷，減少產(chǎn)線接觸不良的問(wèn)題發(fā)生。

人員安全保護(hù)設(shè)計(jì)輸出電路功能 (FLOATING OUTPUT) 與接地失效中斷 (GROUND FAULT INTERRUPT, GFI)

安規(guī)測(cè)試的目的是為了保護(hù)產(chǎn)品使用者的安全。而當(dāng)作業(yè)員在操作儀器時(shí)，也需要儀器的保護(hù)設(shè)計(jì)。Chroma 19055擁有二種作業(yè)員保護(hù)安全設(shè)計(jì)供選擇，分別為浮接輸出 (Floating Output) 及接地失效中斷 (GFI) 設(shè)計(jì)。

為了讓測(cè)試人員能安全無(wú)慮的使用安規(guī)測(cè)試設(shè)備，Chroma 以全新技術(shù)研發(fā)Floating 輸出電路，並符合EN50191 設(shè)備安全標(biāo)準(zhǔn)。在Floating 輸出的狀態(tài)下，對(duì)地具有高阻抗，無(wú)論測(cè)試人員碰觸到任何耐壓測(cè)試端子，接地的漏電流 iH皆不會(huì)大於3.5mA，測(cè)試人員不會(huì)受到電氣傷害。如圖5所示。

GFI 功能為另一項(xiàng)人體保謢電路。如圖6可知，可由電流表A1及A2 分別得到 i1 及 i2 ; 當(dāng)操作人員觸電時(shí)，電流表分別測(cè)得不同數(shù)值，其差異為 i1 - i2 = iH , 當(dāng) iH過(guò)高時(shí)，即判定為 GFI 不良，並會(huì)立即切斷輸出訊號(hào)，保障使用者的安全。

產(chǎn)品應(yīng)用

Chroma 19055-C耐壓分析儀具備電暈放電偵測(cè)功能 (CDD)，進(jìn)行電暈放電偵測(cè)，降低客訴發(fā)生率。並可使用崩潰電壓分析功能 (BDV)尋找產(chǎn)品的電暈放電啟始電壓 (CSV)、電氣閃絡(luò)啟始電壓 (FSV)及絕緣崩潰電壓 (BDV)，對(duì)於產(chǎn)品研發(fā)階段的絕緣能力驗(yàn)證，以及產(chǎn)品製程的可靠度，提供參考的數(shù)據(jù)。

常態(tài)電壓下電暈放電檢測(cè) 
變壓器: 當(dāng)電子產(chǎn)品在常態(tài)電壓使用時(shí)，若內(nèi)部初級(jí)電路絕緣不良，導(dǎo)致初級(jí)端的繞組長(zhǎng)期處?kù)峨姇灧烹姞顟B(tài)，在經(jīng)過(guò)一段時(shí)間後，必然會(huì)影響絕緣能力。電源變壓器就是一個(gè)例子，目前部份電源變壓器之設(shè)計(jì)，多會(huì)保留一組輔助線圈予其他電路使用，如圖 7.2所示，在長(zhǎng)期的 Vpk=750V下，當(dāng)製作工藝不良， 如絕緣膠帶加工不良，套管不良等，導(dǎo)致持續(xù)性電暈性放電發(fā)生，初級(jí)繞阻間的絕緣能力將會(huì)有所影響，進(jìn)而漆包碳化而燒毀。

馬達(dá): 旋轉(zhuǎn)電機(jī)類產(chǎn)品如工業(yè)用馬達(dá)或電動(dòng)車用馬達(dá)等，由於使用時(shí)間較長(zhǎng)且使用環(huán)境溫溼度變化大，需求高耐用性與可靠度。溫度與溼度也是影響絕緣的要素，若在線圈與線圈間，及線圈對(duì)鐵心發(fā)生電暈放電，將導(dǎo)致長(zhǎng)期的溫升與材料質(zhì)變化，導(dǎo)致絕緣劣化。在耐壓測(cè)試中加入電暈放電測(cè)試功能，提高對(duì)絕緣品質(zhì)的要求，可找出絕緣能力較不佳的產(chǎn)品，有效降低因長(zhǎng)期使用而發(fā)生的不良機(jī)率。

電容器 / 光耦合器 / 絕緣材料之高壓耐受性測(cè)試
高壓耐受性測(cè)試常使用在高壓電容器，安規(guī)電容器、光耦合器以及絕緣材料之驗(yàn)證。當(dāng)絕緣介質(zhì)間因製程導(dǎo)致裂痕或含有氣泡時(shí)，一旦進(jìn)行耐壓測(cè)試，將形成不同的電場(chǎng)狀態(tài)，進(jìn)而發(fā)生電暈放電現(xiàn)象。長(zhǎng)期將導(dǎo)致介質(zhì)狀態(tài)變化，而絕緣不良，發(fā)生品質(zhì)議題。

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