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  • POGO BT 4000致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀

    致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀 筆記本/手持式系統(tǒng)的LCD耐久性 : 模擬一個產(chǎn)品的面板元件非常態(tài)的受力 按鍵的壽命測試 : 模擬在產(chǎn)品的生命周期內(nèi)按鍵的耐久度 機(jī)構(gòu)密合度 : 模擬產(chǎn)品結(jié)構(gòu)上的耐久度 產(chǎn)品緩沖 : 模擬重復(fù)摩擦塑膠材質(zhì)或觸控式面板

    更新時間：2024-11-30
    產(chǎn)品型號：POGO BT 4000
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  • Multi-Hinge TesterChroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀

    Chroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀 針對筆記型電腦的轉(zhuǎn)軸測試 待測物數(shù)量可架設(shè)10組Hinge 可擴(kuò)充同時測試15組Hinge

    更新時間：2024-11-30
    產(chǎn)品型號：Multi-Hinge Tester
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  • HiByM 2001 Hinge致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀

    致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀 高效能，全自動的扭轉(zhuǎn)開合測試機(jī) 高速、準(zhǔn)確及適用性能符合許多測試規(guī)范 主要為筆記型電腦及其他使用時會承受重復(fù)性扭轉(zhuǎn)的產(chǎn)品 模仿操作者每日正常使用產(chǎn)品時影響的機(jī)械結(jié)構(gòu)動作

    更新時間：2024-11-29
    產(chǎn)品型號：HiByM 2001 Hinge
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  • MFM 3000致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀

    致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀 符合所有現(xiàn)行的tco低頻磁場輻射測試標(biāo)準(zhǔn)（MFM 2000） 可載入icniRP、en 50366、iec 62233等規(guī)范（選購），并適用于其他由icniRP衍生的低頻磁場輻射測試規(guī)范（5Hz~400 Khz）（MFM 3000） 全自動權(quán)范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF）（MFM 2000）頻帶I（5Hz~2 kHz）：10

    更新時間：2024-11-29
    產(chǎn)品型號：MFM 3000
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  • MFM 2000致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀

    致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀 符合所有現(xiàn)行的TCO低頻磁場輻射測試標(biāo)準(zhǔn)（MFM2000） 可載入ICNIRP、EN 50366、IEC 62233等規(guī)范（選購），并適用于其他由ICNIRP衍生的低頻磁場輻射測試規(guī)范（5Hz~400kHz） （MFM 3000） 全自動權(quán)范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF） （MFM2000） 頻帶I（5Hz~2kHz）:10n

    更新時間：2024-11-29
    產(chǎn)品型號：MFM 2000
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