產(chǎn)品中心

Product Center
  • 8800致茂Chroma 8800 被動(dòng)組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

    致茂Chroma 8800 被動(dòng)組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 開(kāi)放性架構(gòu)軟件平臺(tái) -支持?jǐn)U增硬件 -支持含有GPIB / RS-232或RS-485接口儀器 -測(cè)試項(xiàng)目編輯功能 -測(cè)試程序編輯功能 -統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表功能 -使用者權(quán)限設(shè)定 -測(cè)試項(xiàng)目/程序控管功能 -人員進(jìn)出系統(tǒng)記錄 -支援Bar Code Reader 測(cè)試命令編輯,幫助改善測(cè)試速度 廣泛的模塊化硬件以提供高準(zhǔn)確及重復(fù)量測(cè)

    更新時(shí)間:2023-12-18
    產(chǎn)品型號(hào):8800
    瀏覽量:788
  • 1820/11805/11200致茂Chroma 1820/11805/11200 電容測(cè)試系統(tǒng)

    致茂Chroma 1820/11805/11200 電容測(cè)試系統(tǒng) 高頻弦波電流 : 1kHz~20kHz, 10kHz ~ 200kHz 直流重疊電壓 : 蕞高5000V 電容元件耐久性與溫升測(cè)試 電容元件耐電流測(cè)試 (頻率掃描) 軟體控制支援 可依客戶(hù)需求客制測(cè)試模組

    更新時(shí)間:2023-12-18
    產(chǎn)品型號(hào):1820/11805/11200
    瀏覽量:876
  • 1810致茂Chroma 1810 磁性組件測(cè)試系統(tǒng)

    致茂Chroma 1810 磁性組件測(cè)試系統(tǒng) 高頻弦波電壓 :20kHz~1MHz, 直流重迭電流 (大60A) 磁性組件功率損失偵測(cè) 磁性組件溫度偵測(cè) 軟件控制支持 可依客戶(hù)需求提供對(duì)應(yīng)模塊

    更新時(shí)間:2023-12-18
    產(chǎn)品型號(hào):1810
    瀏覽量:831
  • 1871致茂Chroma 1871 電感層間短路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

    致茂Chroma 1871 電感層間短路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 測(cè)試包裝速度200ppm~1200ppm 依照測(cè)試需求,提供5個(gè)測(cè)試站的機(jī)型及2個(gè)測(cè)試站的機(jī)型選項(xiàng),以利客戶(hù)選擇需求的機(jī)型 搭配*、高功能、低電感的量測(cè)技術(shù),給客戶(hù)**的選擇 配備有特地為低電感測(cè)試而開(kāi)發(fā)的層間短路測(cè)試機(jī) 測(cè)試機(jī)具備電感測(cè)量接觸檢查功能 測(cè)試機(jī)具備電感差異電壓補(bǔ)償功能

    更新時(shí)間:2023-12-18
    產(chǎn)品型號(hào):1871
    瀏覽量:746
  • 1870D/1870D-12致茂Chroma 1870D/1870D-12 電感測(cè)試包裝機(jī)

    致茂Chroma 1870D/1870D-12 電感測(cè)試包裝機(jī) 測(cè)試包裝速度80ppm~1,800ppm 標(biāo)準(zhǔn)功能: - 電感/品質(zhì)因素測(cè)試 - 繞線(xiàn)電阻測(cè)試 - 極性測(cè)試 選配功能: - 層間短路測(cè)試 - 絕緣電阻測(cè)試 - 重疊電流測(cè)試

    更新時(shí)間:2023-12-18
    產(chǎn)品型號(hào):1870D/1870D-12
    瀏覽量:872
共 129 條記錄,當(dāng)前 19 / 26 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)